文章摘要:晶体材料的局部结构是对长程有序平均结构的偏离，随着技术的进步和多年来的深入探究，局部结构对材料性能的深刻影响逐渐被学界所认识，对局部结构的探索为材料的性能提升和器件开发提供了关键理论指导。另一方面，铁电材料往往具备十分复杂的局部结构，并且局部结构对平均结构的偏离十分微小，对其进行准确表征具有很大挑战性。本工作针对国际上较为通用的局部结构表征手段进行了综述，主要包括基于X射线和中子进行的单晶漫散射实验技术和粉末全散射实验技术，以及相关数据分析和结构模型构建方法；此外，对散射技术用于铁电压电材料局部结构表征的典型范例进行了回顾。

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